Гостинформ
> Общероссийский классификатор стандартов
> 31 Электроника
> 31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника * Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры * Микропроцессоры см. 35.160
ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Описание:
Обозначение: ГОСТ Р 57394-2017
Статус: принят
Тип: ГОСТ Р
Название русское: Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Название английское: Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation
Дата издания: 17.04.2017
Дата введения в действие: 01.01.2018
Область и условия применения: Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации
Текст ГОСТ Р 57394-2017
Скачать документ бесплатно (Печать в pdf)
ГОСТы
Нормативные документы
