ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Описание:
Обозначение: ГОСТ 26239.5-84
Статус: действующий
Название русское: Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
Название английское: Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination
Дата издания: 21.01.1985
Дата введения в действие: 01.01.1986
Область и условия применения: Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01
Список изменений: №1 от (рег. ) «Срок действия продлен»
Приложение №0: Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84
Текст ГОСТ 26239.5-84
Приложение к ГОСТу
Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84
Обозначение: Изменение №1 к ГОСТ 26239.5-84
Дата введения в действие: 01.01.1991
Текст поправки интегрирован в текст или описание стандарта.
ГОСТы
Нормативные документы
