ГОСТ 8.171-75 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия
Описание:
Обозначение: ГОСТ 8.171-75
Статус: действующий
Название русское: Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия
Название английское: State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications
Дата издания: 10.11.1975
Дата введения в действие: 01.01.1977
Область и условия применения: Настоящий стандарт распространяется на меры поверхностной плотности, предназначенные для воспроизведения единицы поверхностной плотности листовых и ленточных материалов в диапазоне от 2 до 30000 г/м кв. на площади от 5 до 600 см кв
Список изменений: №1 от (рег. ) «Срок действия продлен»
№2 от (рег. ) «Срок действия продлен»
№3 от (рег. ) «Срок действия продлен»
Приложение №0: Изменение №1 к ГОСТ 8.171-75
Приложение №1: Изменение №2 к ГОСТ 8.171-75
Приложение №2: Изменение №3 к ГОСТ 8.171-75
Текст ГОСТ 8.171-75
Приложения к ГОСТу
Изменение №1 к ГОСТ 8.171-75
Обозначение: Изменение №1 к ГОСТ 8.171-75
Дата введения в действие: 01.03.1981
Текст поправки интегрирован в текст или описание стандарта.
Изменение №2 к ГОСТ 8.171-75
Обозначение: Изменение №2 к ГОСТ 8.171-75
Дата введения в действие: 01.07.1987
Текст поправки интегрирован в текст или описание стандарта.
Изменение №3 к ГОСТ 8.171-75
Обозначение: Изменение №3 к ГОСТ 8.171-75
Дата введения в действие: 01.01.1992
Текст поправки интегрирован в текст или описание стандарта.
ГОСТы
Нормативные документы
