ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Описание:
Обозначение: ГОСТ 8.593-2009
Статус: действующий
Название русское: Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки
Название английское: State system for ensuring the uniformity of measurements. Atomic-force scanning probe microscopes. Method for verification
Дата издания: 10.06.2010
Дата введения в действие: 01.11.2010
Область и условия применения: Настоящий стандарт распространяется на сканирующие зондовые атомно-силовые микроскопы, применяемые для измерений линейных размеров в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус шесть) м, и устанавливает методику их первичной и периодических поверок с использованием рельефных мер по ГОСТ 8.591 и ГОСТ 8.592
Текст ГОСТ 8.593-2009
ГОСТы
Нормативные документы
