Линейные и угловые измерения в целом

(ОКС) Общероссийский классификатор стандартов
(17) МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ
(17.040) Линейные и угловые измерения *Включая геометрические характеристики (GPS)
(17.040.01) Линейные и угловые измерения в целом



ГОСТ Р 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки

Статус: Действующий | Дата издания: 10.02.2011


ГОСТ Р 8.628-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

Статус: Действующий | Дата издания: 10.02.2011


ГОСТ Р 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки

Статус: Действующий | Дата издания: 08.02.2011


ГОСТ Р 8.629-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

Статус: Действующий | Дата издания: 08.02.2011


ГОСТ Р 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки

Статус: Действующий | Дата издания: 16.01.2008


ГОСТ Р 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки

Статус: Действующий | Дата издания: 16.01.2008


ГОСТ Р 8.644-2008 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика калибровки

Статус: Действующий | Дата издания: 26.03.2010


ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Статус: Действующий | Дата издания: 19.04.2010


ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра

Статус: Действующий | Дата издания: 11.05.2010


ГОСТ Р 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа

Статус: Действующий | Дата издания: 19.04.2010


ГОСТ 8.592-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления

Статус: Действующий | Дата издания: 08.06.2010


ГОСТ 8.591-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки

Статус: Действующий | Дата издания: 10.06.2010


ГОСТ 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы электронные растровые. Методика поверки

Статус: Действующий | Дата издания: 31.05.2010


ГОСТ 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки

Статус: Действующий | Дата издания: 10.06.2010


ГОСТ Р 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

Статус: Действующий | Дата издания: 17.06.2010

ГОСТы, ОСТы, ТУ

СНиПы

© 2013-2017 Гостинформ | Справочник содержания драгоценных металлов | Обратная связь

Рейтинг@Mail.ru
[an error occurred while processing this directive]